Избранное
ЭБ Нефть
и Газ
Главная
Оглавление
Поиск +
Еще книги ...
Энциклопедия
Помощь
Для просмотра
необходимо:


Книга: Главная » Данков П.Д. Электронографические исследования окисных и гидрооксидных плёнок на металлах
 
djvu / html
 

2. Методы электронографии и типы электронограмм
Существует два основных разветвления электронографиче-ского метода, основанные на применении медленных и быстрых электронов.
Применение медленных электронов (ускоряющее напряжение - сотни вольт) оказалось настолько сложным, а расчет так труден, что развитие этого метода в применении к исследованию структуры поверхности надолго затормозилось.
Метод быстрых электронов (ускоренных полем в десятки киловольт) нашел значительное применение. Здесь имеется два направления: исследование поверхностей и тонких пленок и изучение строения газовых молекул.
Наиболее широко применяется метод быстрых электронов для исследования поверхностей и тонких пленок. Принципиального различия в диффракции при «отражении» электронов от поверхностей и «прохождении» их через тонкие пленки нет, но практические различия все же имеются. Получение электронограмм при отражении или, точнее, скольжении электронов - задача более трудная, чем при их прохождении; выводы из электронограмм скольжения обычно более бедны и затруднительны, чем из электронограмм прохождения. Поэтому в нашей практике отыскивались также пути параллельного исследования, позволяющие заменять съемку на отражение съемкой на прохождение.
Например, защитную окисную пленку на железе мы изолировали электрохимическим путем и изучали диффракцию электронов в ней методом прохождения; окисная пленка на алюминии изучалась нами методом прохождения после окисления тонкой пленки металлического алюминия. Таким образом, метод изоляции поверхностных пленок служил важным подспорьем при замене метода отражения электронов методом прохождения.
Предел применимости метода прохождения налагается неспособностью электронов проходить через толстые пленки. Но в применении к изучению массивных слоев теряется и ценность электронографического метода, так как именно в возможности познания тонких пленок и заключается преимущество метода диффракции электронов. С другой стороны, метод диффракции электронов неприменим для исследования слишком тонких пленок. Однако этот предел очень низок; при наличии трех-четырех атомных плоскостей диффракция оказывается возможной и наблюдаемой. Это обусловлено способностью электронов рассеиваться в миллионы раз сильнее рентгеновских лучей. В случае толстых пленок возможности метода
8

 

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150 160 170 180 190 200 210 220


Химическая термодинамика. Свойства углеводородов. Справочники